Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/24777Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Урбанович, Павел Павлович | ru |
| dc.contributor.author | Алексеев, Виктор Федорович | ru |
| dc.contributor.author | Верниковский, Евгений Александрович | ru |
| dc.date.accessioned | 2018-03-31T06:36:32Z | - |
| dc.date.available | 2018-03-31T06:36:32Z | - |
| dc.date.issued | 1995 | - |
| dc.identifier.citation | Урбанович, П. П. Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти / П. П. Урбанович, В. Ф. Алексеев, Е. А. Верниковский. - Минск : Навука і тэхніка, 1995. - 262 с. | ru |
| dc.identifier.isbn | 5-343-01188-8 | - |
| dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/24777 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти. Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей. | ru |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.publisher | Навука і тэхніка | be |
| dc.subject | микросхемы памяти | ru |
| dc.subject | полупроводниковая память | ru |
| dc.subject | надежность избыточных микросхем памяти | ru |
| dc.subject | запоминающее устройство | ru |
| dc.subject | интегральные схемы памяти | ru |
| dc.title | Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти | ru |
| dc.type | Learning Object | en |
| Appears in Collections: | учебные и учебно-методические пособия | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Urbanovich_izbytochnost'.pdf | 16.2 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.