Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/28546Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Рыскулов, А. Е. | ru |
| dc.contributor.author | Кислицин, С. Б. | ru |
| dc.contributor.author | Козловский, А. Л. | ru |
| dc.date.accessioned | 2019-03-26T05:47:37Z | - |
| dc.date.available | 2019-03-26T05:47:37Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Рыскулов, А. Е. Исследование радиационной стойкости керамик ВеО / А. Е. Рыскулов, А. Л. Козловский, С. Б. Кислицын // Инновационные материалы и технологии : материалы докладов Международной научно-технической конференции молодых ученых, Минск, 9-11 января 2019 г. – Минск : БГТУ, 2019. - С. 407-410. | - |
| dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/28546 | - |
| dc.description.abstract | Статья посвящена изучению процессов моделирования радиационных дефектов при облучении тяжелыми ионами керамических материалов. Выбор ионов Ni{12+} с энергией 100 МэВ позволяет моделировать воздействие излучения на глубину приповерхностного слоя более 10-12 мкм и создание радиационных дефектов, которое сравнимо с нейтронным воздействием на материал. | ru |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.publisher | БГТУ | ru |
| dc.subject | керамика | ru |
| dc.subject | оксид бериллия | ru |
| dc.subject | керамики ВеО | ru |
| dc.subject | радиационная стойкость | ru |
| dc.subject | моделирование радиационных дефектов | ru |
| dc.subject | облучение керамических материалов | ru |
| dc.title | Исследование радиационной стойкости керамик ВеО | ru |
| dc.type | Article | en |
| dc.identifier.udc | 541.138/546.56-121:539.2 | - |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференции постатейно | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Ryskulov_Issledovanie radiacionnoj.pdf | 132.07 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
