Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/30503
Title: Контроль состояния БИС ЗУ с целью выявления неработоспособных элементов памяти
Authors: Урбанович, Павел Павлович
Keywords: полупроваодниковые запоминающие устройства
Issue Date: 1985
Citation: Урбанович П.П. Контроль состояния БИС ЗУ с целью выявления неработоспособных элементов памяти / П. П. Урбанович // Перспективы развития и применения автоматизированной радиоизмерительной аппаратуры в народном хозяйстве : материалы научно-технической конференции. Минск, октябрь 1985. - Минск. - 1985. - С. 83
Description: Основным источником информации о количественных характеристиках дефектов элементов памяти (ЭЛ) в БИ С ЗУ является обработка экспериментально полученных статистических данных. Отсутствие экспериментальных данных, может привести к необоснованному увеличению объема аппаратурных затрат с целью нейтрализации определенного количества дефектов ЭЛ в БИС ЗУ.
URI: https://elib.belstu.by/handle/123456789/30503
Appears in Collections:Статьи в республиканских изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
NTK_Minsk’85.PDF80.49 kBAdobe PDFView/Open



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.