Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди-полистирол

Abstract

Методом ACM исследовалось влияние отжига на структуру тонких сенсорных пленок композита металлфталоцианина меди (СиРс) и полистирола (PS), полученных лазерным распылением в вакууме. Обнаружена перекристаллизация СиРс в виде игольчатых кристаллитов при температурах отжига более 200°С. В пленке, отожженной при 200°С, обнаруживаются фазы СиРс и PS, а в пленке, отожженной при 250°С, полимерная фаза не наблюдается, по-видимому, вследствие испарения полимера. Улучшение сенсорных свойств композитных пленок после отжига по сравнению с пленками чистого СиРс объясняется тем, что они имеют пористую структуру и большую эффективную площадь поверхности.