Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/57020
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Бобрович, Олег Георгиевич | - |
dc.date.accessioned | 2023-05-23T10:08:55Z | - |
dc.date.available | 2023-05-23T10:08:55Z | - |
dc.date.issued | 2022 | - |
dc.identifier.citation | Бобрович, О. Г. Дефектообразование в арсениде галлия при имплантации ионов алюминия и фосфора / О. Г. Бобрович // Тезисы докладов 51-й международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами, Москва, 24-26 мая 2022 г. - Москва : МГУ им. М. В. Ломоносова, 2022. - С. 122. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/57020 | - |
dc.description.abstract | В настоящей работе методом резерфордовского обратного рассеяния ионов гелия в сочетании с каналированием (РОРКИ) исследовано дефектообразование в кристаллах (111) GaAs, имплантированных ионами алюминия энергией 60 кэВ и дозами 4,0·10{13} Al{+}/см{2} – 8,1·10{15} Al{+}/см{2} при комнатной температуре и фосфора с энергией 60 кэВ до дозы 4,0·10{14} Р{+}/см{2} после термического отжига в интервале температур 150−450 °С. | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.subject | резерфордовское обратное рассеяние | ru |
dc.subject | ионы гелия | ru |
dc.subject | дефектообразование | ru |
dc.subject | арсенид галлия | ru |
dc.subject | имплантация ионов | ru |
dc.subject | ионы алюминия | ru |
dc.subject | ионы фосфора | ru |
dc.title | Дефектообразование в арсениде галлия при имплантации ионов алюминия и фосфора | ru |
dc.type | Thesis | ru |
dc.identifier.udc | 621.793:539.211:539.188 | - |
Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Бобрович_Дефектообразование.pdf | 99.73 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.