Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/59340| Название: | Фотоассистированная сканирующая зондовая электросиловая микроскопия Кельвина пленочных гетероструктур фталоцианин меди - диметилдиимид перилентетракарбоновой кислоты |
| Авторы: | Мисевич, Алексей Васильевич Лаппо, Алеся Николаевна Почтенный, Артем Евгеньевич |
| Ключевые слова: | электросиловая микроскопия производные фталоцианинов производные диметилдиимида перилентетракарбоновая кислота метод Кельвина фотоассистированная электросиловая микроскопия сканирующая зондовая микроскопия |
| Дата публикации: | 2023 |
| Издательство: | БГТУ |
| Библиографическое описание: | Мисевич, А. В. Фотоассистированная сканирующая зондовая электросиловая микроскопия Кельвина пленочных гетероструктур фталоцианин меди - диметилдиимид перилентетракарбоновой кислоты / А. В. Мисевич, А. Н. Лаппо, А. Е. Почтенный // Информационные технологии. Физика и математика : материалы 87-й научно-технической конференции профессорско-преподавательского состава, научных сотрудников и аспирантов, Минск, 31 января - 17 февраля 2023 г. - Минск : БГТУ, 2023. – С. 221-224. |
| Краткий осмотр (реферат): | Целью данной работы является разработка метода фотоассистированной ЭСМ Кельвина, то есть метода ЭСМ Кельвина, дополненного тем, что в сканирующем электросиловом микроскопе исследуемый образец и зазор между кончиком проводящего зонда и поверхностью образца освещается внешним оптическим излучением, а также применение разработанного метода для определения знака заряда основных носителей в исследуемых органических полупроводниках и гетероструктурах на их основе. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/59340 |
| Располагается в коллекциях: | материалы конференции постатейно |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Мисевич_Фотоассистированная.pdf | 258.42 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.