Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/67421
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМакась, С. Б.-
dc.date.accessioned2024-09-23T12:04:40Z-
dc.date.available2024-09-23T12:04:40Z-
dc.date.issued2002-
dc.identifier.citationМакась, С. Б. Имитационная модель надежности динамического оперативного запоминающего устройства / С. Б. Макась // Труды Белорусского государственного технологического университета. Серия 6. Физико-математические науки и информатика. - 2002. - Вып. 10. - С. 116-125. - Библиогр.: 8 назв.ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/67421-
dc.description.abstractПриведены основные принципы построения имитационных моделей надежности полупроводниковых устройств оперативной памяти на основе COM-технологии. Рассмотрены особенности практической реализации математического аппарата статистического моделирования при помощи теории объектно-ориентированного программирования (ООП), COM-технологии и теории параллельных процессов. На основе результатов проведенных вычислений в статье приводятся практические рекомендации, необходимые при построении имитационных моделей надежности с использованием ООП.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГТУru
dc.subjectимитационные модели надежностиru
dc.subjectполупроводниковые устройстваru
dc.subjectстатистическое моделированиеru
dc.subjectтеория объектно-ориентированного аппаратаru
dc.subjectалгоритмыru
dc.subjectЭВМru
dc.titleИмитационная модель надежности динамического оперативного запоминающего устройстваru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udc681.3.07-
Appears in Collections:Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2002




Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.