Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/67779
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Кулак, Михаил Иосифович | - |
dc.contributor.author | Пиотух, Ирина Григорьевна | - |
dc.contributor.author | Медяк, Диана Михайловна | - |
dc.date.accessioned | 2024-10-14T12:03:14Z | - |
dc.date.available | 2024-10-14T12:03:14Z | - |
dc.date.issued | 2001 | - |
dc.identifier.citation | Кулак, М. И. Микрогеометрия фрактальной поверхности офсетного полотна / М. И. Кулак, И. Г. Пиотух, Д. М. Медяк // Труды Белорусского государственного технологического университета. Серия 6. Физико-математические науки и информатика. - 2001. - Вып. 9. - С. 87-92. - Библиогр.: 7 назв. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/67779 | - |
dc.description.abstract | Описание микрогеометрии прверхности офсетного полотна в рамках фрактального подхода представляет интерес как с точки зрения исследования механики печатного контакта, так и процессов краскопереноса при печатании. В работе проведен анализ возможных способов определения фрактальной размерности поверхности офсетного полотна, обсуждаются полученные с их помощью конкретные численные результаты. | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | БГТУ | ru |
dc.subject | микрогеометрия | ru |
dc.subject | офсетная печать | ru |
dc.subject | офсетное полотно | ru |
dc.subject | полиграфия | ru |
dc.subject | пластмассы | ru |
dc.subject | металлы | ru |
dc.title | Микрогеометрия фрактальной поверхности офсетного полотна | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.identifier.udc | 519.72 | - |
Appears in Collections: | Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2001 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Кулак, М. И. Микрогеометрия фрактальной поверхности.pdf | 376.92 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.