Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/64574
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Громыко, Ирина Григорьевна | - |
dc.contributor.author | Кудряшова, Алина Николаевна | - |
dc.contributor.author | Прохорчик, Сергей Александрович | - |
dc.contributor.author | Бабаханова, Халима Абишевна | - |
dc.contributor.author | Галимова, Зулфия Камиловна | - |
dc.date.accessioned | 2024-04-12T09:04:01Z | - |
dc.date.available | 2024-04-12T09:04:01Z | - |
dc.date.issued | 2024 | - |
dc.identifier.citation | Громыко И. Г., Кудряшова А. Н., Прохорчик С. А., Бабаханова Х. А., Галимова З. К. Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей // Труды БГТУ. Сер. 4, Принт- и медиатехнологии. 2024. № 1 (279). С. 5–12. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/64574 | - |
dc.description.abstract | В статье представлен сравнительный анализ методов атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых материалов. С помощью сканирующего зондового микроскопа Solver HV, работающего в полуконтактном режиме, и профилометра-профилографа Hommel Tester T1000 получены профилограммы рельефа поверхности образцов бумаги. В качестве объекта исследования выступали четыре образца бумаги с различным композиционным составом. Приведены параметры шероховатости поверхности образцов бумаги, полученные с помощью атомно-силового микроскопа и профилометра, а также рассчитаны фрактальные размерности структуры бумаги. Применяемые методы исследования позволяют в равной мере использовать их для оценки стохастической структуры запечатываемых поверхностей, хотя метод атомно-силовой микроскопии является более точным, в то время как профилометр передает только общий контур рельефа. При использовании атомно-силовой микроскопии более точные результаты обеспечивает топографическое изображение поверхности образцов бумаги для кадра 3500 нм. Применяемые подходы позволяют учесть вклад структуры материала в распределение красочного слоя, что в конечном итоге окажет влияние на качество печатной продукции | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | БГТУ | ru |
dc.subject | шероховатость | ru |
dc.subject | микроструктура бумаги | ru |
dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru |
dc.subject | фрактальная размерность | ru |
dc.subject | профилометрия | ru |
dc.subject | качество печатной продукции | ru |
dc.title | Методы атомно-силовой микроскопии и профилометрии в исследовании фрактальной неоднородности запечатываемых поверхностей | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.identifier.udc | 676.017 | - |
dc.identifier.DOI | 10.52065/2520-6729-2024-279-1 | - |
Appears in Collections: | выпуск журнала постатейно |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
1. Громыко.pdf | 1.66 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.