Расчет показателей надежности избыточных БИС запоминающих устройств

Урбанович, Павел Павлович

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Урбанович, Павел Павлович	-
dc.date.accessioned	2018-03-31T06:56:08Z	-
dc.date.available	2018-03-31T06:56:08Z	-
dc.date.issued	1992	-
dc.identifier.citation	Урбанович, П. П. Расчет показателей надежности избыточных бис запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1992. - Т. 21, вып. 1. - С. 27-30.	ru
dc.identifier.uri	https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779	-
dc.description	Рассмотрена методика прогнозирующего расчета и оценки вероятности и времени наработки на отказ, а также интенсивности некорректируемых отказов в избыточных БИС памяти, в которых используется код, корректирующий одиночные ошибки. Показано, что при относительной площади накопителя на кристалле, лежащей в пределах 0,4-0,7, время наработки на отказ БИС информационной емкостью 16 Кбит практически может быть увеличено в 1,5-4,0 раза. Даны рекомендации по использованию модели в инженерных расчетах.	ru
dc.subject	запоминающие устройства	ru
dc.subject	расчет показателей надежности	ru
dc.title	Расчет показателей надежности избыточных БИС запоминающих устройств	ru
dc.type	Article	ru
dc.identifier.udc	681.3.07.62	-
Appears in Collections:	Статьи в зарубежных изданиях

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
12 Urb_Micro-92.pdf		497.05 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record