Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Урбанович, Павел Павлович | - |
| dc.date.accessioned | 2018-03-31T06:56:08Z | - |
| dc.date.available | 2018-03-31T06:56:08Z | - |
| dc.date.issued | 1992 | - |
| dc.identifier.citation | Урбанович, П. П. Расчет показателей надежности избыточных бис запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1992. - Т. 21, вып. 1. - С. 27-30. | ru |
| dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779 | - |
| dc.description | Рассмотрена методика прогнозирующего расчета и оценки вероятности и времени наработки на отказ, а также интенсивности некорректируемых отказов в избыточных БИС памяти, в которых используется код, корректирующий одиночные ошибки. Показано, что при относительной площади накопителя на кристалле, лежащей в пределах 0,4-0,7, время наработки на отказ БИС информационной емкостью 16 Кбит практически может быть увеличено в 1,5-4,0 раза. Даны рекомендации по использованию модели в инженерных расчетах. | ru |
| dc.subject | запоминающие устройства | ru |
| dc.subject | расчет показателей надежности | ru |
| dc.title | Расчет показателей надежности избыточных БИС запоминающих устройств | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udc | 681.3.07.62 | - |
| Располагается в коллекциях: | Статьи в зарубежных изданиях | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 12 Urb_Micro-92.pdf | 497.05 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.