Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779| Название: | Расчет показателей надежности избыточных БИС запоминающих устройств |
| Авторы: | Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | запоминающие устройства расчет показателей надежности |
| Дата публикации: | 1992 |
| Библиографическое описание: | Урбанович, П. П. Расчет показателей надежности избыточных бис запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1992. - Т. 21, вып. 1. - С. 27-30. |
| Описание: | Рассмотрена методика прогнозирующего расчета и оценки вероятности и времени наработки на отказ, а также интенсивности некорректируемых отказов в избыточных БИС памяти, в которых используется код, корректирующий одиночные ошибки. Показано, что при относительной площади накопителя на кристалле, лежащей в пределах 0,4-0,7, время наработки на отказ БИС информационной емкостью 16 Кбит практически может быть увеличено в 1,5-4,0 раза. Даны рекомендации по использованию модели в инженерных расчетах. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи в зарубежных изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 12 Urb_Micro-92.pdf | 497.05 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.