Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779| Title: | Расчет показателей надежности избыточных БИС запоминающих устройств |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | запоминающие устройства расчет показателей надежности |
| Issue Date: | 1992 |
| Citation: | Урбанович, П. П. Расчет показателей надежности избыточных бис запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1992. - Т. 21, вып. 1. - С. 27-30. |
| Description: | Рассмотрена методика прогнозирующего расчета и оценки вероятности и времени наработки на отказ, а также интенсивности некорректируемых отказов в избыточных БИС памяти, в которых используется код, корректирующий одиночные ошибки. Показано, что при относительной площади накопителя на кристалле, лежащей в пределах 0,4-0,7, время наработки на отказ БИС информационной емкостью 16 Кбит практически может быть увеличено в 1,5-4,0 раза. Даны рекомендации по использованию модели в инженерных расчетах. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/24779 |
| Appears in Collections: | Статьи в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 12 Urb_Micro-92.pdf | 497.05 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.