Критический параметр решеточного флюида с SALR-потенциалом на плоской квадратной решетке

Abstract

Исследована решеточная модель системы наночастиц либо макромолекул, части которой притягиваются на малых расстояниях и отталкиваются на больших (SALR – Short-range Attraction Long-range Repulsion). В качестве модели рассмотрен решеточный флюид с притяжением ближайших и отталкиванием третьих соседей на плоской квадратной решетке. Моделирование системы по методу Монте-Карло показало наличие в системе при низких температурах двух типов упорядоченных фаз. Конкретный вид упорядоченной фазы зависит от химического потенциала μ и параметра взаимодействия |J1| / k[B]T[c]. Для описания обеих упорядоченных фаз исходная решетка была разделена на систему восьми идентичных подрешеток с решеточной постоянной равной 2аѴ2, где a – решеточная постоянная исходной решетки. Это позволило определить параметр порядка δc как разность между максимальной и минимальной концентрацией частиц на подрешетках. С помощью введенного параметра порядка был определен критический параметр системы, который оказался равным |J1| / k[B]T[C] = 0,655 ± 0,005.