Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти

Верниковский, Е. А.; Урбанович, Павел Павлович

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25697

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Верниковский, Е. А.	-
dc.contributor.author	Урбанович, Павел Павлович	-
dc.date.accessioned	2018-05-30T06:44:34Z	-
dc.date.available	2018-05-30T06:44:34Z	-
dc.date.issued	1989	-
dc.identifier.citation	Верниковский, Е. А. Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти/ Е. А. Верниковский, П. П. Урбанович // Электронная техника. Сер. 3: Микроэлектроника. – 1989. – Т. 130, вып. 1. – С. 61-63.	ru
dc.identifier.uri	https://elib.belstu.by/handle/123456789/25697	-
dc.description	Описаны экспериментально полученные статистические характеристики распределения производственных и эксплуатационных отказов запоминающих элементов в накопителях БИС ЗУ информационной емкостью 4 К. Показано, что по мере совершенствования технологии, конструкции и других особенностей производства БИС характер распределения производственных отказов от группирования изменяется в сторону статистической независимости.	ru
dc.subject	отказы запоминающих элементов	ru
dc.title	Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти	ru
dc.type	Article	ru
Appears in Collections:	Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Vernik_Urban.pdf		256.03 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record