Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/25697| Название: | Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти |
| Авторы: | Верниковский, Е. А. Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | отказы запоминающих элементов |
| Дата публикации: | 1989 |
| Библиографическое описание: | Верниковский, Е. А. Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти/ Е. А. Верниковский, П. П. Урбанович // Электронная техника. Сер. 3: Микроэлектроника. – 1989. – Т. 130, вып. 1. – С. 61-63. |
| Описание: | Описаны экспериментально полученные статистические характеристики распределения производственных и эксплуатационных отказов запоминающих элементов в накопителях БИС ЗУ информационной емкостью 4 К. Показано, что по мере совершенствования технологии, конструкции и других особенностей производства БИС характер распределения производственных отказов от группирования изменяется в сторону статистической независимости. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/25697 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи в зарубежных изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Vernik_Urban.pdf | 256.03 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.