Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/25697| Title: | Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти |
| Authors: | Верниковский, Е. А. Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | отказы запоминающих элементов |
| Issue Date: | 1989 |
| Citation: | Верниковский, Е. А. Статистические характеристики отказов запоминающих элементов в микросхемах памяти/ Е. А. Верниковский, П. П. Урбанович // Электронная техника. Сер. 3: Микроэлектроника. – 1989. – Т. 130, вып. 1. – С. 61-63. |
| Description: | Описаны экспериментально полученные статистические характеристики распределения производственных и эксплуатационных отказов запоминающих элементов в накопителях БИС ЗУ информационной емкостью 4 К. Показано, что по мере совершенствования технологии, конструкции и других особенностей производства БИС характер распределения производственных отказов от группирования изменяется в сторону статистической независимости. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/25697 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Vernik_Urban.pdf | 256.03 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.