Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30499
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Урбанович, Павел Павлович | - |
dc.date.accessioned | 2019-09-18T05:59:27Z | - |
dc.date.available | 2019-09-18T05:59:27Z | - |
dc.date.issued | 1990 | - |
dc.identifier.citation | Урбанович П. П. Определение показателей надежности кристаллов избыточных запоминающих устройств / П. П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике, Минск, 16-18 октября 1990. Т. 1. - Минск. - 1990. - С. 261. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30499 | - |
dc.description | Одним из эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) являются методы, основанные на реализации принципов структурной и временной избыточности. Избыточные схемы обеспечивают обнаружение и исправление наиболее вероятных для данного ЗУ информационных ошибок, возникающих из-за отказов или сбоев (кратковременных отказов) в ЗУ. | ru |
dc.subject | избыточные запоминающие устройства | ru |
dc.subject | надежность кристаллов | ru |
dc.title | Определение показателей надежности кристаллов избыточных запоминающих устройств | ru |
dc.type | Article | ru |
Appears in Collections: | Статьи в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Microelectronics'90-2.PDF | 70.03 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.