Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30499| Название: | Определение показателей надежности кристаллов избыточных запоминающих устройств |
| Авторы: | Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | избыточные запоминающие устройства надежность кристаллов |
| Дата публикации: | 1990 |
| Библиографическое описание: | Урбанович П. П. Определение показателей надежности кристаллов избыточных запоминающих устройств / П. П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике, Минск, 16-18 октября 1990. Т. 1. - Минск. - 1990. - С. 261. |
| Описание: | Одним из эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) являются методы, основанные на реализации принципов структурной и временной избыточности. Избыточные схемы обеспечивают обнаружение и исправление наиболее вероятных для данного ЗУ информационных ошибок, возникающих из-за отказов или сбоев (кратковременных отказов) в ЗУ. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30499 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в зарубежных изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Microelectronics'90-2.PDF | 70.03 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.