Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30499| Title: | Определение показателей надежности кристаллов избыточных запоминающих устройств |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | избыточные запоминающие устройства надежность кристаллов |
| Issue Date: | 1990 |
| Citation: | Урбанович П. П. Определение показателей надежности кристаллов избыточных запоминающих устройств / П. П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике, Минск, 16-18 октября 1990. Т. 1. - Минск. - 1990. - С. 261. |
| Description: | Одним из эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) являются методы, основанные на реализации принципов структурной и временной избыточности. Избыточные схемы обеспечивают обнаружение и исправление наиболее вероятных для данного ЗУ информационных ошибок, возникающих из-за отказов или сбоев (кратковременных отказов) в ЗУ. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30499 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Microelectronics'90-2.PDF | 70.03 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.