Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30502
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Урбанович, Павел Павлович | - |
dc.date.accessioned | 2019-09-18T06:11:36Z | - |
dc.date.available | 2019-09-18T06:11:36Z | - |
dc.date.issued | 1988 | - |
dc.identifier.citation | Урбанович П. П. Оценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибок П. П. Урбанович // Проблемы качества и надежности изделий электронной техники, радиоэлектронной аппаратуры и средств управления. Тезисы докладов НТК. Минск, 1-2 декабря 1988. - Минск. - 1988. - С. 90. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30502 | - |
dc.description | Предлагаемая аналитическая модель надежности БИС построена о учетом структуры кристалла С точки зрения схемотехники ЗУ состоит из накопителя, схем выборки элементов памяти (ЭП), блоков ввода/вывода информации и др. В соответствии с этим кристалл делится на отдельные участки зоны), отказы в которых приводят к разным последствиям: отказам одиночных ЭП, строк, столбов накопителя и др. | ru |
dc.subject | полупроводниковые запоминающие устройства | ru |
dc.subject | надежность кристаллов | ru |
dc.title | Оценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибок | ru |
dc.type | Article | ru |
Appears in Collections: | Статьи в республиканских изданиях |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
NTK_Minsk’88.PDF | 88.88 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.