1. Электронная библиотека БГТУ
  2. Статьи ученых БГТУ
  3. Статьи в республиканских изданиях
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/30502
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorУрбанович, Павел Павлович-
dc.date.accessioned2019-09-18T06:11:36Z-
dc.date.available2019-09-18T06:11:36Z-
dc.date.issued1988-
dc.identifier.citationУрбанович П. П. Оценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибок П. П. Урбанович // Проблемы качества и надежности изделий электронной техники, радиоэлектронной аппаратуры и средств управления. Тезисы докладов НТК. Минск, 1-2 декабря 1988. - Минск. - 1988. - С. 90.ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/30502-
dc.descriptionПредлагаемая аналитическая модель надежности БИС построена о учетом структуры кристалла С точки зрения схемотехники ЗУ состоит из накопителя, схем выборки элементов памяти (ЭП), блоков ввода/вывода информации и др. В соответствии с этим кристалл делится на отдельные участки зоны), отказы в которых приводят к разным последствиям: отказам одиночных ЭП, строк, столбов накопителя и др.ru
dc.subjectполупроводниковые запоминающие устройстваru
dc.subjectнадежность кристалловru
dc.titleОценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибокru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Статьи в республиканских изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
NTK_Minsk’88.PDF88.88 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.