Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30502| Название: | Оценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибок |
| Авторы: | Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | полупроводниковые запоминающие устройства надежность кристаллов |
| Дата публикации: | 1988 |
| Библиографическое описание: | Урбанович П. П. Оценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибок П. П. Урбанович // Проблемы качества и надежности изделий электронной техники, радиоэлектронной аппаратуры и средств управления. Тезисы докладов НТК. Минск, 1-2 декабря 1988. - Минск. - 1988. - С. 90. |
| Описание: | Предлагаемая аналитическая модель надежности БИС построена о учетом структуры кристалла С точки зрения схемотехники ЗУ состоит из накопителя, схем выборки элементов памяти (ЭП), блоков ввода/вывода информации и др. В соответствии с этим кристалл делится на отдельные участки зоны), отказы в которых приводят к разным последствиям: отказам одиночных ЭП, строк, столбов накопителя и др. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30502 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в республиканских изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| NTK_Minsk’88.PDF | 88.88 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.