Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30502| Title: | Оценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибок |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | полупроводниковые запоминающие устройства надежность кристаллов |
| Issue Date: | 1988 |
| Citation: | Урбанович П. П. Оценка надежности полупроводниковых ЗУ с коррекцией одиночных ошибок П. П. Урбанович // Проблемы качества и надежности изделий электронной техники, радиоэлектронной аппаратуры и средств управления. Тезисы докладов НТК. Минск, 1-2 декабря 1988. - Минск. - 1988. - С. 90. |
| Description: | Предлагаемая аналитическая модель надежности БИС построена о учетом структуры кристалла С точки зрения схемотехники ЗУ состоит из накопителя, схем выборки элементов памяти (ЭП), блоков ввода/вывода информации и др. В соответствии с этим кристалл делится на отдельные участки зоны), отказы в которых приводят к разным последствиям: отказам одиночных ЭП, строк, столбов накопителя и др. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30502 |
| Appears in Collections: | Публикации в республиканских изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| NTK_Minsk’88.PDF | 88.88 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.