Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Урбанович, Павел Павлович | - |
dc.contributor.author | Майоров, С. А. | - |
dc.date.accessioned | 2020-06-09T06:00:48Z | - |
dc.date.available | 2020-06-09T06:00:48Z | - |
dc.date.issued | 1995 | - |
dc.identifier.citation | Урбанович, П. П. Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине / П. П. Урбанович, С. А. Майоров // Компьютерный анализ данных и моделирование : сборник научных статей международной конференции, 4-8 сентября 1995 г. Минск, том 2. – Минск: БГУ, 1995. – С. 265-268. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976 | - |
dc.description.abstract | Описываются результаты моделирования распределения дефектов в системах памяти на пластинах, результаты определения размеров скоплений дефектов и расчета числа резервных блоков для заданного выхода годных таких систем | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | ru |
dc.language.iso | ru | ru |
dc.publisher | БГУ | ru |
dc.subject | запоминающие устройства | ru |
dc.title | Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине | ru |
dc.type | Article | ru |
Располагается в коллекциях: | Статьи в республиканских изданиях |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
CADM'95.pdf | 209.05 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.