Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorУрбанович, Павел Павлович-
dc.contributor.authorМайоров, С. А.-
dc.date.accessioned2020-06-09T06:00:48Z-
dc.date.available2020-06-09T06:00:48Z-
dc.date.issued1995-
dc.identifier.citationУрбанович, П. П. Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине / П. П. Урбанович, С. А. Майоров // Компьютерный анализ данных и моделирование : сборник научных статей международной конференции, 4-8 сентября 1995 г. Минск, том 2. – Минск: БГУ, 1995. – С. 265-268.ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/33976-
dc.description.abstractОписываются результаты моделирования распределения дефектов в системах памяти на пластинах, результаты определения размеров скоплений дефектов и расчета числа резервных блоков для заданного выхода годных таких системru
dc.format.mimetypeapplication/pdfru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУru
dc.subjectзапоминающие устройстваru
dc.titleМоделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластинеru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Статьи в республиканских изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
CADM'95.pdf209.05 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.