Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине

Урбанович, Павел Павлович; Майоров, С. А.

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Урбанович, Павел Павлович	-
dc.contributor.author	Майоров, С. А.	-
dc.date.accessioned	2020-06-09T06:00:48Z	-
dc.date.available	2020-06-09T06:00:48Z	-
dc.date.issued	1995	-
dc.identifier.citation	Урбанович, П. П. Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине / П. П. Урбанович, С. А. Майоров // Компьютерный анализ данных и моделирование : сборник научных статей международной конференции, 4-8 сентября 1995 г. Минск, том 2. – Минск: БГУ, 1995. – С. 265-268.	ru
dc.identifier.uri	https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976	-
dc.description.abstract	Описываются результаты моделирования распределения дефектов в системах памяти на пластинах, результаты определения размеров скоплений дефектов и расчета числа резервных блоков для заданного выхода годных таких систем	ru
dc.format.mimetype	application/pdf	ru
dc.language.iso	ru	ru
dc.publisher	БГУ	ru
dc.subject	запоминающие устройства	ru
dc.title	Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине	ru
dc.type	Article	ru
Appears in Collections:	Публикации в республиканских изданиях

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
CADM'95.pdf		209.05 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record