Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976| Название: | Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине |
| Авторы: | Урбанович, Павел Павлович Майоров, С. А. |
| Ключевые слова: | запоминающие устройства |
| Дата публикации: | 1995 |
| Издательство: | БГУ |
| Библиографическое описание: | Урбанович, П. П. Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине / П. П. Урбанович, С. А. Майоров // Компьютерный анализ данных и моделирование : сборник научных статей международной конференции, 4-8 сентября 1995 г. Минск, том 2. – Минск: БГУ, 1995. – С. 265-268. |
| Краткий осмотр (реферат): | Описываются результаты моделирования распределения дефектов в системах памяти на пластинах, результаты определения размеров скоплений дефектов и расчета числа резервных блоков для заданного выхода годных таких систем |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи в республиканских изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| CADM'95.pdf | 209.05 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.