Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976
Название: Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине
Авторы: Урбанович, Павел Павлович
Майоров, С. А.
Ключевые слова: запоминающие устройства
Дата публикации: 1995
Издательство: БГУ
Библиографическое описание: Урбанович, П. П. Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине / П. П. Урбанович, С. А. Майоров // Компьютерный анализ данных и моделирование : сборник научных статей международной конференции, 4-8 сентября 1995 г. Минск, том 2. – Минск: БГУ, 1995. – С. 265-268.
Краткий осмотр (реферат): Описываются результаты моделирования распределения дефектов в системах памяти на пластинах, результаты определения размеров скоплений дефектов и расчета числа резервных блоков для заданного выхода годных таких систем
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976
Располагается в коллекциях:Статьи в республиканских изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
CADM'95.pdf209.05 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.