Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976| Title: | Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович Майоров, С. А. |
| Keywords: | запоминающие устройства |
| Issue Date: | 1995 |
| Publisher: | БГУ |
| Citation: | Урбанович, П. П. Моделирование возникновения дефектов в устройствах памяти с интеграцией на пластине / П. П. Урбанович, С. А. Майоров // Компьютерный анализ данных и моделирование : сборник научных статей международной конференции, 4-8 сентября 1995 г. Минск, том 2. – Минск: БГУ, 1995. – С. 265-268. |
| Abstract: | Описываются результаты моделирования распределения дефектов в системах памяти на пластинах, результаты определения размеров скоплений дефектов и расчета числа резервных блоков для заданного выхода годных таких систем |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/33976 |
| Appears in Collections: | Публикации в республиканских изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| CADM'95.pdf | 209.05 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.