1. Электронная библиотека БГТУ
  2. Материалы конференций и семинаров
  3. Научно-технические конференции профессорско-преподавательского состава
  4. 85-я научно-техническая конференция профессорско-преподавательского состава, научных сотрудников и аспирантов (с международным участием), 1-13 февраля 2021 г.
  5. Информационные технологии
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorЛаппо, Алеся Николаевна-
dc.contributor.authorМисевич, Алексей Васильевич-
dc.contributor.authorПочтенный, Артем Евгеньевич-
dc.date.accessioned2021-05-19T07:31:10Z-
dc.date.available2021-05-19T07:31:10Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationЛаппо, А. Н. Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии / А. Н. Лаппо, А. В. Мисевич, А. Е. Почтенный // Информационные технологии : материалы 85-й научно-технической конференции профессорско-преподавательского состава, научных сотрудников и аспирантов (с международным участием), Минск, 1-13 февраля 2021 г. – Минск : БГТУ, 2021. – С. 39-41.ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/41067-
dc.description.abstractЦелью данной работы является исследование органического полупроводника поли[2-метокси-5-(2-этилгексилокси)-1,4-фениленвини-лена] (MEH-PPV) методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии, и их применение для исследования локальных (на нанометровых масштабах) свойств поверхности твердых тел, а также твердотельных тонко-пленочных структур и наноструктур на основе полупроводников.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГТУru
dc.subjectтонкие пленкиru
dc.subjectсканирующая туннельная спектроскопияru
dc.subjectсканирующая туннельная микроскопияru
dc.subjectфотоассистированная микроскопияru
dc.subjectпленки MEH-PPVru
dc.subjectсканирующая зондовая микроскопияru
dc.titleИзучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопииru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udc539.213.2-
Располагается в коллекциях:Информационные технологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Лаппо_Изучение.pdf197.35 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.