Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067| Название: | Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии |
| Авторы: | Лаппо, Алеся Николаевна Мисевич, Алексей Васильевич Почтенный, Артем Евгеньевич |
| Ключевые слова: | тонкие пленки сканирующая туннельная спектроскопия сканирующая туннельная микроскопия фотоассистированная микроскопия пленки MEH-PPV сканирующая зондовая микроскопия |
| Дата публикации: | 2021 |
| Издательство: | БГТУ |
| Библиографическое описание: | Лаппо, А. Н. Изучение тонких пленок MEX-PPV методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии / А. Н. Лаппо, А. В. Мисевич, А. Е. Почтенный // Информационные технологии : материалы 85-й научно-технической конференции профессорско-преподавательского состава, научных сотрудников и аспирантов (с международным участием), Минск, 1-13 февраля 2021 г. – Минск : БГТУ, 2021. – С. 39-41. |
| Краткий осмотр (реферат): | Целью данной работы является исследование органического полупроводника поли[2-метокси-5-(2-этилгексилокси)-1,4-фениленвини-лена] (MEH-PPV) методами сканирующей туннельной спектроскопии и фотоассистированной сканирующей туннельной микроскопии, и их применение для исследования локальных (на нанометровых масштабах) свойств поверхности твердых тел, а также твердотельных тонко-пленочных структур и наноструктур на основе полупроводников. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/41067 |
| Располагается в коллекциях: | Информационные технологии |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Лаппо_Изучение.pdf | 197.35 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.