Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/49826| Название: | Анализ оптических параметров тонких пленок ниобатов бария-стронция состава SBN-61 |
| Авторы: | Жидель, К. М. Павленко, А. В. |
| Ключевые слова: | ниобаты бария-стронция тонкие пленки SBN-пленки сегнетоэлектрические материалы оптические параметры пленок показатели преломления |
| Дата публикации: | 2022 |
| Библиографическое описание: | Жидель, К. М. Анализ оптических параметров тонких пленок ниобатов бария-стронция состава SBN-61 / К. М. Жидель, А. В. Павленко // Инновационные материалы и технологии - 2022 : материалы Международной научно-технической конференции молодых ученых, Минск, 23-24 марта 2022 г. - Минск : БГТУ, 2022. – С. 67-70. |
| Краткий осмотр (реферат): | В работе представлены результаты спектрофотометрических и эллипсометрических исследований тонких пленок разной толщины ниобатов бария-стронция Sr0,61Ba0,39Nb2O6 (SBN-61), нанесенных на кристаллические подложки MgO (001). |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/49826 |
| Располагается в коллекциях: | материалы конференции постатейно |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Жидель_Анализ.pdf | 221.36 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.