1. Электронная библиотека БГТУ
  2. Материалы конференций и семинаров
  3. Международные конференции
  4. Минские научные чтения
  5. Технологическая независимость и конкурентоспособность Союзного государства, стран СНГ, ЕАЭС и ШОС : сборник статей VI Международной научно-технической конференции "Минские научные чтения - 2023", Минск, 06-08 декабря 2023 г. - Минск : БГТУ, 2023. - Т. 2. - 491 с.
  6. материалы конференции постатейно
Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/61738
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМадьяров, Владимир Рафкатович-
dc.date.accessioned2023-12-27T05:39:16Z-
dc.date.available2023-12-27T05:39:16Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationМадьяров, В. Р. Оценка скорости поверхностной рекомбинации в полупроводниковых микроструктурах на основе эффекта магнитоплазменного отражения / В. Р. Мадьяров // Технологическая независимость и конкурентоспособность Союзного государства, стран СНГ, ЕАЭС и ШОС : сборник статей VI Международной научно-технической конференции "Минские научные чтения - 2023", Минск, 6-8 декабря 2023 г. : в 3 т. - Минск : БГТУ, 2023. - Т. 2. - С. 284-289.ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/61738-
dc.description.abstractВ данной работе предлагается оценивать скорость поверхностной рекомбинации в плоском n-Si в стационарном режиме по измеренным значениям интенсивности фотовозбуждающего источника (лазерного диода) и концентрации носителей заряда в приповерхностной области полупроводникового слоя. Концентрация носителей в приповерхностной облучаемой области полупроводниковой пластины определялась по резонансной частоте магнитоплазменного поглощения зондирующего излучения миллиметрового диапазона, при которой наблюдается минимальное пропускание.ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfru
dc.language.isoruru
dc.publisherБГТУru
dc.subjectскорость поверхностной рекомбинацииru
dc.subjectоценка скорости поверхностной рекомбинацииru
dc.subjectэффект магнитоплазменного отраженияru
dc.subjectповерхностная рекомбинацияru
dc.subjectметод измерений рекомбинационных параметровru
dc.titleОценка скорости поверхностной рекомбинации в полупроводниковых микроструктурах на основе эффекта магнитоплазменного отраженияru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udc537.633.2-
Appears in Collections:материалы конференции постатейно

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Мадьяров_Оценка.pdf409.93 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.