Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/65311| Название: | Фотоассистированная сканирующая туннельная микроскопия пленочных структур на основе фталоцианина меди и N, N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты |
| Авторы: | Почтенный, Артем Евгеньевич Лаппо, Алеся Николаевна Карагеоргиев, П. |
| Ключевые слова: | N-диметилдиимид перилентетракарбоновая кислота газовые сенсоры органические полупроводники поликристаллические пленки светоизлучающие диоды солнечные элементы фталоцианин меди |
| Дата публикации: | 2005 |
| Издательство: | БГТУ |
| Библиографическое описание: | Почтенный, А. Е. Фотоассистированная сканирующая туннельная микроскопия пленочных структур на основе фталоцианина меди и N, N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты / А. Е. Почтенный, А. Н. Лаппо, П. Карагеоргиев // Труды Белорусского государственного технологического университета. Серия VI. Физико-математические науки и информатика. - 2005. - Вып. XIII. - С. 87-89. - Библиогр.: 5 назв. |
| Краткий осмотр (реферат): | В данной статье проведен анализ возможностей фогоассистированной сканирующей туннельной микроскопии для исследования пленочных структур на основе фталоцианина меди и N, N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты. Показано, что в пленках исследуемых органических полупроводников наблюдается селективность эффекта по отношению к длине волны. Проведенные исследования позволяют сделать вывод о возможности осуществления на практике локального химического анализа органических нано-композитных пленок в наноразмерном масштабе. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/65311 |
| Располагается в коллекциях: | Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2005 |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Почтенный А. Е. Фотоассистированная.pdf | 464.2 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.