Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/73620
Title: Статистическое исследование формы околокритической поверхности фазовой диаграммы для последующего численного расчета критических индексов
Authors: Наркевич, Иван Иванович
Фарафонтова, Елена Валерьевна
Станчук, А. А.
Доценко, В. О.
Keywords: форма околокритических поверхностей
расчет критических индексов
численный расчет критических индексов
элементарные флуктуации плотности (ЭФП)
значения параметров сосуществующих фаз
расчет параметров фазовых переходов
Issue Date: 2025
Publisher: БГТУ
Citation: Статистическое исследование формы околокритической поверхности фазовой диаграммы для последующего численного расчета критических индексов / И. И. Наркевич, Е. В. Фарафонтова, А. А. Станчук, В. О. Доценко // Информационные технологии. Физика и математика : материалы 89-й научно-технической конференции профессорско-преподавательского состава, научных сотрудников и аспирантов (с международным участием), Минск, 3-18 февраля 2025 г. - Минск : БГТУ, 2025. – С. 336-338.
Abstract: По результатам расчетов выполнены теоретические построения фазовых диаграмм температура – плотность и давление – плотность во всем интервале фазового перехода жидкость – газ. Следует отметить, что использование гипотетической кубической решетки (число ближайших соседей Z = 6) привело к лучшему согласованию теоретических параметров критической точки с экспериментальными значениями для аргона. Выполненные в работе численные исследования показали, что точность расчетов, с которой проведена локализация критической точки, недостаточна для определения критических показателей, определяющих форму околокритических поверхностей и законы убывания поверхностного натяжения.
URI: https://elib.belstu.by/handle/123456789/73620
Appears in Collections:материалы конференции постатейно

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Наркевич_Статистическое.pdf419.53 kBAdobe PDFView/Open



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.