Please use this identifier to cite or link to this item: http://elib.belstu.by/handle/123456789/9687
Title: Исследование релаксационных свойств полупроводников с помощью интерферометрии миллиметрового диапазона
Authors: Мадьяров, Владимир Рафкатович
Keywords: интерферометрия миллиметрового диапазона
массоперенос
релаксационные свойства
электронный перенос
Issue Date: 2013
Publisher: БГТУ
Citation: Мадьяров, В. Р. Исследование релаксационных свойств полупроводников с помощью интерферометрии миллиметрового диапазона / В. Р. Мадьяров // Труды БГТУ. - Минск : БГТУ, 2013. - № 6 (162). - С. 54-56.
Description: Параметры электронного переноса в полупроводнике можно оценить, зная время релаксации и эффективную массу носителей заряда. В данной работе предложена методика измерения времени релаксации носителей заряда в пластинках n-Si и n-Ge методом фазовой компенсации зондирующих волн в диапазоне частот 30–80 ГГц. Время релаксации, определенное по величине сдвига фазы зондирующей волны, хорошо согласуется со значениями, полученными на основе модели Друде – Нернста переноса носителей заряда в однородном полупроводнике.
URI: http://elib.belstu.by/handle/123456789/9687
Appears in Collections:2013, № 6

Files in This Item:
File SizeFormat 
madyarov.pdf359.31 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.