Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/9687
Title: | Исследование релаксационных свойств полупроводников с помощью интерферометрии миллиметрового диапазона |
Authors: | Мадьяров, Владимир Рафкатович |
Keywords: | интерферометрия миллиметрового диапазона массоперенос релаксационные свойства электронный перенос |
Issue Date: | 2013 |
Publisher: | БГТУ |
Citation: | Мадьяров, В. Р. Исследование релаксационных свойств полупроводников с помощью интерферометрии миллиметрового диапазона / В. Р. Мадьяров // Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2013. - С. 54-56. |
Abstract: | Параметры электронного переноса в полупроводнике можно оценить, зная время релаксации и эффективную массу носителей заряда. В данной работе предложена методика измерения времени релаксации носителей заряда в пластинках n-Si и n-Ge методом фазовой компенсации зондирующих волн в диапазоне частот 30–80 ГГц. Время релаксации, определенное по величине сдвига фазы зондирующей волны, хорошо согласуется со значениями, полученными на основе модели Друде – Нернста переноса носителей заряда в однородном полупроводнике. |
URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/9687 |
Appears in Collections: | Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2013 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
madyarov.pdf | 359.31 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.