Рентгенодифрактометрические исследования синтетического алмаза, облегченного электронами

Abstract

Развиты представления о радиационной стойкости синтетического алмаза (СА) из исследований рентгенодифрактометрических (РД) спектров СА в форме порошков АС2 различной зернистости с разной прочностью, синтезированных в одном синтезе в каталитической системе Ni – Mn, облученных электронами с энергией 6,5 МэВ дозами D = 2 · 1019 и 8 · 1019 см–2. РД-спектры СА получены на высокоразрешающем дифрактометре D8 Аdvance Bruker AXS с использованием опций вращения образца, малой скорости регистрации РД-спектров (0,01°/мин), а также высокой точности определения положения их линий (?? = ±0,0001°). Установлено, что в соответствии с существующими представлениями о расщеплении линий РД-спектра кристаллического объекта с искаженной кубической кристаллической структурой, кристаллическая решетка СА в форме порошков является искаженной, аналогично cBN, активированному примесями. Выявлено, что облучение СА в форме порошков дозой D = 2 · 1019 см–2 приводит к совершенствованию кристаллической решетки СА в корреляции с исходной прочностью СА: симметрия искажений кристаллической решетки СА повышается, а их абсолютные значения уменьшаются. Увеличение дозы облучения до D = 8 · 1019 см–2 вызывает понижение симметрии искажений кристаллической решетки СА и увеличение их величины. Эффект сопровождается уменьшением параметра кристаллической решетки СА, что является признаком разупрочнения и разупорядочения его кристаллической структуры. Полученные новые результаты являются основой метода неразрушающего контроля прочности СА любых морфологических форм.