Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/15291
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Шишонок, Елена Михайловна | ru |
dc.contributor.author | Лугин, Валерий Геннадьевич | ru |
dc.date.accessioned | 2017-03-17T12:40:47Z | - |
dc.date.available | 2017-03-17T12:40:47Z | - |
dc.date.issued | 2015 | - |
dc.identifier.citation | Шишонок, Е. М. Рентгенодифрактометрические исследования синтетического алмаза, облегченного электронами / Е. М. Шишонок, В. Г. Лугин // Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2015. - С. 102-106. | - |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/15291 | - |
dc.description.abstract | Развиты представления о радиационной стойкости синтетического алмаза (СА) из исследований рентгенодифрактометрических (РД) спектров СА в форме порошков АС2 различной зернистости с разной прочностью, синтезированных в одном синтезе в каталитической системе Ni – Mn, облученных электронами с энергией 6,5 МэВ дозами D = 2 · 1019 и 8 · 1019 см–2. РД-спектры СА получены на высокоразрешающем дифрактометре D8 Аdvance Bruker AXS с использованием опций вращения образца, малой скорости регистрации РД-спектров (0,01°/мин), а также высокой точности определения положения их линий (?? = ±0,0001°). Установлено, что в соответствии с существующими представлениями о расщеплении линий РД-спектра кристаллического объекта с искаженной кубической кристаллической структурой, кристаллическая решетка СА в форме порошков является искаженной, аналогично cBN, активированному примесями. Выявлено, что облучение СА в форме порошков дозой D = 2 · 1019 см–2 приводит к совершенствованию кристаллической решетки СА в корреляции с исходной прочностью СА: симметрия искажений кристаллической решетки СА повышается, а их абсолютные значения уменьшаются. Увеличение дозы облучения до D = 8 · 1019 см–2 вызывает понижение симметрии искажений кристаллической решетки СА и увеличение их величины. Эффект сопровождается уменьшением параметра кристаллической решетки СА, что является признаком разупрочнения и разупорядочения его кристаллической структуры. Полученные новые результаты являются основой метода неразрушающего контроля прочности СА любых морфологических форм. | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | БГТУ | ru |
dc.subject | синтетические алмазы | ru |
dc.subject | поршок | ru |
dc.subject | рентгеновская дифрактометрия | ru |
dc.subject | искажения кристаллической структуры | ru |
dc.title | Рентгенодифрактометрические исследования синтетического алмаза, облегченного электронами | ru |
dc.type | Article | en |
dc.identifier.udc | 535.36,535.37,584.4,537.26 | - |
Appears in Collections: | Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2015 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
rentgenodifraktometricheskie-issledovaniya-sinteticheskogo-almaza-obluchennogo-ehlektronami-e.-m.-shishonok-v.-g.-lugin.pdf | 557.48 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.