Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/15291
Title: | Рентгенодифрактометрические исследования синтетического алмаза, облегченного электронами |
Authors: | Шишонок, Елена Михайловна Лугин, Валерий Геннадьевич |
Keywords: | синтетические алмазы поршок рентгеновская дифрактометрия искажения кристаллической структуры |
Issue Date: | 2015 |
Publisher: | БГТУ |
Citation: | Шишонок, Е. М. Рентгенодифрактометрические исследования синтетического алмаза, облегченного электронами / Е. М. Шишонок, В. Г. Лугин // Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2015. - С. 102-106. |
Abstract: | Развиты представления о радиационной стойкости синтетического алмаза (СА) из исследований рентгенодифрактометрических (РД) спектров СА в форме порошков АС2 различной зернистости с разной прочностью, синтезированных в одном синтезе в каталитической системе Ni – Mn, облученных электронами с энергией 6,5 МэВ дозами D = 2 · 1019 и 8 · 1019 см–2. РД-спектры СА получены на высокоразрешающем дифрактометре D8 Аdvance Bruker AXS с использованием опций вращения образца, малой скорости регистрации РД-спектров (0,01°/мин), а также высокой точности определения положения их линий (?? = ±0,0001°). Установлено, что в соответствии с существующими представлениями о расщеплении линий РД-спектра кристаллического объекта с искаженной кубической кристаллической структурой, кристаллическая решетка СА в форме порошков является искаженной, аналогично cBN, активированному примесями. Выявлено, что облучение СА в форме порошков дозой D = 2 · 1019 см–2 приводит к совершенствованию кристаллической решетки СА в корреляции с исходной прочностью СА: симметрия искажений кристаллической решетки СА повышается, а их абсолютные значения уменьшаются. Увеличение дозы облучения до D = 8 · 1019 см–2 вызывает понижение симметрии искажений кристаллической решетки СА и увеличение их величины. Эффект сопровождается уменьшением параметра кристаллической решетки СА, что является признаком разупрочнения и разупорядочения его кристаллической структуры. Полученные новые результаты являются основой метода неразрушающего контроля прочности СА любых морфологических форм. |
URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/15291 |
Appears in Collections: | Труды БГТУ. №6. Физико-математические науки и информатика, 2015 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
rentgenodifraktometricheskie-issledovaniya-sinteticheskogo-almaza-obluchennogo-ehlektronami-e.-m.-shishonok-v.-g.-lugin.pdf | 557.48 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.