Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств

Урбанович, Павел Павлович

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Урбанович, Павел Павлович	-
dc.date.accessioned	2018-05-30T06:33:13Z	-
dc.date.available	2018-05-30T06:33:13Z	-
dc.date.issued	1990	-
dc.identifier.citation	Урбанович, П. П. Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1990. - Т. 19, вып. 6. - С. 542-548.	ru
dc.identifier.uri	https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694	-
dc.description	Предложена методика прогнозирующего расчета надежности избыточных БИС запоминающих устройств, в которых размещены схемы обнаружения и коррекции одиночных ошибок в словах. Методика основана на предположении о зависимости характера и интенсивности возникающих информационных ошибок от площади на кристалле, занимаемой соответствующими блоками БИС.	ru
dc.subject	запоминающие устройства	ru
dc.subject	кодирование	ru
dc.title	Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств	ru
dc.type	Article	ru
Appears in Collections:	Статьи в зарубежных изданиях

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
micro 90.pdf		488.36 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record