1. Электронная библиотека БГТУ
  2. Статьи ученых БГТУ
  3. Статьи в зарубежных изданиях
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorУрбанович, Павел Павлович-
dc.date.accessioned2018-05-30T06:33:13Z-
dc.date.available2018-05-30T06:33:13Z-
dc.date.issued1990-
dc.identifier.citationУрбанович, П. П. Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1990. - Т. 19, вып. 6. - С. 542-548.ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/25694-
dc.descriptionПредложена методика прогнозирующего расчета надежности избыточных БИС запоминающих устройств, в которых размещены схемы обнаружения и коррекции одиночных ошибок в словах. Методика основана на предположении о зависимости характера и интенсивности возникающих информационных ошибок от площади на кристалле, занимаемой соответствующими блоками БИС.ru
dc.subjectзапоминающие устройстваru
dc.subjectкодированиеru
dc.titleПрогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройствru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Статьи в зарубежных изданиях
Урбанович Павел Павлович

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
micro 90.pdf488.36 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.