Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694
Название: Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств
Авторы: Урбанович, Павел Павлович
Ключевые слова: запоминающие устройства
кодирование
Дата публикации: 1990
Библиографическое описание: Урбанович, П. П. Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1990. - Т. 19, вып. 6. - С. 542-548.
Описание: Предложена методика прогнозирующего расчета надежности избыточных БИС запоминающих устройств, в которых размещены схемы обнаружения и коррекции одиночных ошибок в словах. Методика основана на предположении о зависимости характера и интенсивности возникающих информационных ошибок от площади на кристалле, занимаемой соответствующими блоками БИС.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694
Располагается в коллекциях:Публикации в зарубежных изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
micro 90.pdf488.36 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.