Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694| Title: | Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | запоминающие устройства кодирование |
| Issue Date: | 1990 |
| Citation: | Урбанович, П. П. Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1990. - Т. 19, вып. 6. - С. 542-548. |
| Description: | Предложена методика прогнозирующего расчета надежности избыточных БИС запоминающих устройств, в которых размещены схемы обнаружения и коррекции одиночных ошибок в словах. Методика основана на предположении о зависимости характера и интенсивности возникающих информационных ошибок от площади на кристалле, занимаемой соответствующими блоками БИС. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| micro 90.pdf | 488.36 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.