Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694
Title: Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств
Authors: Урбанович, Павел Павлович
Keywords: запоминающие устройства
кодирование
Issue Date: 1990
Citation: Урбанович, П. П. Прогнозирующий расчет надежности избыточных БИС запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Микроэлектроника. - 1990. - Т. 19, вып. 6. - С. 542-548.
Description: Предложена методика прогнозирующего расчета надежности избыточных БИС запоминающих устройств, в которых размещены схемы обнаружения и коррекции одиночных ошибок в словах. Методика основана на предположении о зависимости характера и интенсивности возникающих информационных ошибок от площади на кристалле, занимаемой соответствующими блоками БИС.
URI: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25694
Appears in Collections:Статьи в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
micro 90.pdf488.36 kBAdobe PDFView/Open



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.