Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/25892
Название: Структурно-изыточные методы повышения отказоустойчивости полупроводниковых микросхем памяти с группирующимися отказами
Авторы: Урбанович, Павел Павлович
Ключевые слова: запоминающие устройства
отказоустойчивые микросхемы
автореферат диссертации
Дата публикации: 1993
Издательство: Москва
Библиографическое описание: Урбанович, П. П. Структурно-изыточные методы повышения отказоустойчивости полупроводниковых микросхем памяти с группирующимися отказами / П. П. Урбанович ; Московский энергетический институт : автореф. дис. … доктора техн. наук : 05.13.05. – Москва, 1993. – 25 с
Краткий осмотр (реферат): Целью работы является комплексное исследование, разработка и внедрение методов построения отказоустойчивых микросхем полупроводниковой памяти высокой и сверхвысокой степени интеграции
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://elib.belstu.by/handle/123456789/25892
Располагается в коллекциях:Авторефераты диссертаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Urbanovich_Strukturno.pdf319.87 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.