Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/26765

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Майоров, С. А.	ru
dc.contributor.author	Урбанович, Павел Павлович	ru
dc.date.accessioned	2018-11-15T10:38:09Z	-
dc.date.available	2018-11-15T10:38:09Z	-
dc.date.issued	1992	-
dc.identifier.citation	Майоров, С. А. Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ/ С. А. Майоров, П. П. Урбанович // Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника. – 1992. – Вып. 1(146). – С. 42-45.	ru
dc.identifier.uri	https://elib.belstu.by/handle/123456789/26765	-
dc.subject	полупроваодниковые запоминающие устройства	ru
dc.title	Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ	ru
dc.type	Article	ru
Appears in Collections:	Публикации в республиканских изданиях

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
opredel_charakter_defektov.pdf		752.87 kB	Adobe PDF	View/Open