1. Электронная библиотека БГТУ
  2. Статьи ученых БГТУ
  3. Статьи в республиканских изданиях
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://elib.belstu.by/handle/123456789/26765
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМайоров, С. А.ru
dc.contributor.authorУрбанович, Павел Павловичru
dc.date.accessioned2018-11-15T10:38:09Z-
dc.date.available2018-11-15T10:38:09Z-
dc.date.issued1992-
dc.identifier.citationМайоров, С. А. Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ/ С. А. Майоров, П. П. Урбанович // Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника. – 1992. – Вып. 1(146). – С. 42-45.ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/26765-
dc.subjectполупроваодниковые запоминающие устройстваru
dc.titleОпределение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУru
dc.typeArticleru
Располагается в коллекциях:Статьи в республиканских изданиях

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
opredel_charakter_defektov.pdf752.87 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.