Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/26765| Название: | Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ |
| Авторы: | Майоров, С. А. Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | полупроваодниковые запоминающие устройства |
| Дата публикации: | 1992 |
| Библиографическое описание: | Майоров, С. А. Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ/ С. А. Майоров, П. П. Урбанович // Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника. – 1992. – Вып. 1(146). – С. 42-45. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/26765 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в республиканских изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| opredel_charakter_defektov.pdf | 752.87 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.