Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/26765| Title: | Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ |
| Authors: | Майоров, С. А. Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | полупроваодниковые запоминающие устройства |
| Issue Date: | 1992 |
| Citation: | Майоров, С. А. Определение характеристик распределения дефектов в микросхемах полупроводниковых ОЗУ/ С. А. Майоров, П. П. Урбанович // Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника. – 1992. – Вып. 1(146). – С. 42-45. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/26765 |
| Appears in Collections: | Публикации в республиканских изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| opredel_charakter_defektov.pdf | 752.87 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.