Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами

Урбанович, Павел Павлович

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Урбанович, Павел Павлович	-
dc.date.accessioned	2019-09-18T05:56:30Z	-
dc.date.available	2019-09-18T05:56:30Z	-
dc.date.issued	1990	-
dc.identifier.citation	Урбанович П. П. Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами / П. П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике, Минск, 16-18 октября 1990. Т.1.- Минск. - 1990. - С. 150-152.	ru
dc.identifier.uri	https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498	-
dc.description	Одним из наиболее эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых ЗУ являются схемотехнические методы, основанные на реализации принципов помехоустойчивого кодирования информации, т. е. посредством введения структурной и временной избыточности. Избыточные схемы обеспечивают обнаружение и исправление информационных ошибок, возникающих из-за отказов или сбоев отказов) в БИС.	ru
dc.subject	помехоустойчивое кодирование	ru
dc.subject	полупроводниковые запоминающие устройства	ru
dc.title	Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами	ru
dc.type	Article	ru
Appears in Collections:	Статьи в зарубежных изданиях

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Microelectronics'90-1.PDF		165.32 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record