Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Урбанович, Павел Павлович | - |
dc.date.accessioned | 2019-09-18T05:56:30Z | - |
dc.date.available | 2019-09-18T05:56:30Z | - |
dc.date.issued | 1990 | - |
dc.identifier.citation | Урбанович П. П. Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами / П. П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике, Минск, 16-18 октября 1990. Т.1.- Минск. - 1990. - С. 150-152. | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498 | - |
dc.description | Одним из наиболее эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых ЗУ являются схемотехнические методы, основанные на реализации принципов помехоустойчивого кодирования информации, т. е. посредством введения структурной и временной избыточности. Избыточные схемы обеспечивают обнаружение и исправление информационных ошибок, возникающих из-за отказов или сбоев отказов) в БИС. | ru |
dc.subject | помехоустойчивое кодирование | ru |
dc.subject | полупроводниковые запоминающие устройства | ru |
dc.title | Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами | ru |
dc.type | Article | ru |
Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Microelectronics'90-1.PDF | 165.32 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.