Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498| Название: | Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами |
| Авторы: | Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | помехоустойчивое кодирование полупроводниковые запоминающие устройства |
| Дата публикации: | 1990 |
| Библиографическое описание: | Урбанович П. П. Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами / П. П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике, Минск, 16-18 октября 1990. Т.1.- Минск. - 1990. - С. 150-152. |
| Описание: | Одним из наиболее эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых ЗУ являются схемотехнические методы, основанные на реализации принципов помехоустойчивого кодирования информации, т. е. посредством введения структурной и временной избыточности. Избыточные схемы обеспечивают обнаружение и исправление информационных ошибок, возникающих из-за отказов или сбоев отказов) в БИС. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в зарубежных изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Microelectronics'90-1.PDF | 165.32 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.