Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498| Title: | Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | помехоустойчивое кодирование полупроводниковые запоминающие устройства |
| Issue Date: | 1990 |
| Citation: | Урбанович П. П. Надежность БИС ЗУ с нейтрализацией отказов и сбоев схемотехническими методами / П. П. Урбанович // VII Международная конференция по микроэлектронике, Минск, 16-18 октября 1990. Т.1.- Минск. - 1990. - С. 150-152. |
| Description: | Одним из наиболее эффективных средств повышения надежности кристаллов полупроводниковых ЗУ являются схемотехнические методы, основанные на реализации принципов помехоустойчивого кодирования информации, т. е. посредством введения структурной и временной избыточности. Избыточные схемы обеспечивают обнаружение и исправление информационных ошибок, возникающих из-за отказов или сбоев отказов) в БИС. |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30498 |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Microelectronics'90-1.PDF | 165.32 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.