Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30504
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Урбанович, Павел Павлович | - |
dc.date.accessioned | 2019-09-18T06:18:07Z | - |
dc.date.available | 2019-09-18T06:18:07Z | - |
dc.date.issued | 1985 | - |
dc.identifier.citation | Урбанович П. П. Оценка надежности избыточных запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Состояние и перспективы развития микроэлектронной техники : Материалы Всесоюзной НТК. Ч. 3. - Минск. -1985. - С. 57 | ru |
dc.identifier.uri | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30504 | - |
dc.description | Рост степени интеграции полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) привел к необходимости использования избыточных схем для нейтрализации неисправностей (дефектов производства и отказов эксплуатации) в этих устройствах. Зачастую на практике алгоритм работы избыточных схем основан на использовании кодов Хемминга | ru |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.subject | избыточные запоминающие устройства | ru |
dc.title | Оценка надежности избыточных запоминающих устройств | ru |
dc.type | Article | ru |
Appears in Collections: | Публикации в республиканских изданиях |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
NTK_Minsk’85-1.PDF | 98.18 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.