1. Электронная библиотека БГТУ
  2. Статьи ученых БГТУ
  3. Статьи в республиканских изданиях
Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.belstu.by/handle/123456789/30504
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorУрбанович, Павел Павлович-
dc.date.accessioned2019-09-18T06:18:07Z-
dc.date.available2019-09-18T06:18:07Z-
dc.date.issued1985-
dc.identifier.citationУрбанович П. П. Оценка надежности избыточных запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Состояние и перспективы развития микроэлектронной техники : Материалы Всесоюзной НТК. Ч. 3. - Минск. -1985. - С. 57ru
dc.identifier.urihttps://elib.belstu.by/handle/123456789/30504-
dc.descriptionРост степени интеграции полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) привел к необходимости использования избыточных схем для нейтрализации неисправностей (дефектов производства и отказов эксплуатации) в этих устройствах. Зачастую на практике алгоритм работы избыточных схем основан на использовании кодов Хеммингаru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.subjectизбыточные запоминающие устройстваru
dc.titleОценка надежности избыточных запоминающих устройствru
dc.typeArticleru
Appears in Collections:Статьи в республиканских изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
NTK_Minsk’85-1.PDF98.18 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.