Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30504| Название: | Оценка надежности избыточных запоминающих устройств |
| Авторы: | Урбанович, Павел Павлович |
| Ключевые слова: | избыточные запоминающие устройства |
| Дата публикации: | 1985 |
| Библиографическое описание: | Урбанович П. П. Оценка надежности избыточных запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Состояние и перспективы развития микроэлектронной техники : Материалы Всесоюзной НТК. Ч. 3. - Минск. -1985. - С. 57 |
| Описание: | Рост степени интеграции полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) привел к необходимости использования избыточных схем для нейтрализации неисправностей (дефектов производства и отказов эксплуатации) в этих устройствах. Зачастую на практике алгоритм работы избыточных схем основан на использовании кодов Хемминга |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30504 |
| Располагается в коллекциях: | Публикации в республиканских изданиях |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| NTK_Minsk’85-1.PDF | 98.18 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.