Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/30504| Title: | Оценка надежности избыточных запоминающих устройств |
| Authors: | Урбанович, Павел Павлович |
| Keywords: | избыточные запоминающие устройства |
| Issue Date: | 1985 |
| Citation: | Урбанович П. П. Оценка надежности избыточных запоминающих устройств / П. П. Урбанович // Состояние и перспективы развития микроэлектронной техники : Материалы Всесоюзной НТК. Ч. 3. - Минск. -1985. - С. 57 |
| Description: | Рост степени интеграции полупроводниковых запоминающих устройств (ЗУ) привел к необходимости использования избыточных схем для нейтрализации неисправностей (дефектов производства и отказов эксплуатации) в этих устройствах. Зачастую на практике алгоритм работы избыточных схем основан на использовании кодов Хемминга |
| URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/30504 |
| Appears in Collections: | Публикации в республиканских изданиях |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| NTK_Minsk’85-1.PDF | 98.18 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.