Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.belstu.by/handle/123456789/32663
Title: | Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди-полистирол |
Authors: | Стукалов, О. М. Мисевич, Алексей Васильевич Почтенный, Артем Евгеньевич Галлямов, М. О. Яминский, И. В. |
Keywords: | атомно-силовая микроскопия композитные пленки органические электронные материалы тонкие сенсорные пленки электронные материалы металлфталоцианины фталоцианин меди полистирол сенсорные свойства |
Issue Date: | 2000 |
Citation: | Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди-полистирол / О. М. Стукалов [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхронные и нейтронные исследования. - 2000. - № 11. - С. 94-96. |
Abstract: | Методом ACM исследовалось влияние отжига на структуру тонких сенсорных пленок композита металлфталоцианина меди (СиРс) и полистирола (PS), полученных лазерным распылением в вакууме. Обнаружена перекристаллизация СиРс в виде игольчатых кристаллитов при температурах отжига более 200°С. В пленке, отожженной при 200°С, обнаруживаются фазы СиРс и PS, а в пленке, отожженной при 250°С, полимерная фаза не наблюдается, по-видимому, вследствие испарения полимера. Улучшение сенсорных свойств композитных пленок после отжига по сравнению с пленками чистого СиРс объясняется тем, что они имеют пористую структуру и большую эффективную площадь поверхности. |
URI: | https://elib.belstu.by/handle/123456789/32663 |
Appears in Collections: | Статьи в зарубежных изданиях |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Stukalov_Atomno-silovaya.pdf | 425.71 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.